高低溫試驗箱適用于測試和確定電子電工、材料及其他產(chǎn)品在進行高溫、低溫和恒溫試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。還是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備。

　　在使用高低溫試驗箱時，不要將試品電源接入設(shè)備電源中，除非設(shè)備預(yù)留出試品電源接口，否則會增加設(shè)備電源負荷。嚴禁試驗易燃、易爆、高腐蝕、強輻射物品。設(shè)備在通電狀態(tài)下或者是在運行過程中請不要搬動檢修。

　　關(guān)于快速溫度變化高低溫試驗箱的變溫速率有兩種提法，一種是全程平均升降溫速度，一種是線形升降溫速度(實際上是每5min平均速度)。全程平均速度是指在試驗箱的變溫范圍內(nèi)，高溫度與低溫度之差值與時間之比，目前國外各環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠家提供的變溫速率的技術(shù)參數(shù)都是指的全程平均速率。線形升降溫速度指在任意的每5min時間段內(nèi)，能夠保證的變溫速率。而實際上對于快速溫度變化高低溫試驗箱來說，保證線形升降溫速度的難度大、關(guān)鍵的一段是，在降溫段后的一個5min的時間段內(nèi)，試驗箱可以達到的降溫速率。因此試驗設(shè)備具有全程平均升降溫速度和線形升降溫速度(每5min平均速度)這兩個參數(shù)，一般來說，線形升降溫速度(每5min平均速度)是全程平均升降溫速度的1/2。